序号 |
设备名称 |
设备型号 |
生产厂家 |
性能指标 |
更详细资料 |
1 |
高分辨透射电镜 |
JEM-2010 UHR |
日本电子公司 |
200KV,分辨率为0.19/0.14 nm(点/线) |
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2 |
扫描电镜 |
JSM-5900 |
日本电子公司 |
30KV,分辨率3.0nm |
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3 |
X-射线衍射仪 |
D max/RB |
日本理学公司 |
12KW转靶 |
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4 |
核磁共振谱仪 |
AVANCE400D+ HR/MAS |
瑞士Bruker公司 |
带温度梯度单元 |
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5 |
X射线荧光光谱仪 |
ADVANT'XP |
美国热电集团瑞士ARL公司 |
4GN铑靶、超尖端、超薄窗(75um)、端窗X射线管,固态3.6KW高功率发生器 |
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6 |
综热分析仪 |
STA449C |
德国耐驰公司 |
DSC204差热分析仪,DMA242动态热继续分析仪,真空泵,CC200L控冷装置;Julabo F25恒温水浴 |
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7 |
傅里叶变换红外光谱仪 |
Nexus 670 |
美国Nicolet公司 |
分辨率优于0.09cm-1,光谱范围:12500~50 cm-1 |
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8 |
红外显微镜 |
Continuμm IR |
美国热电集团尼高力分子光谱仪器公司 |
波数范围:4000cm-1~700cm-1;噪比:33400:1,分辨率:0.1 cm-1;线性度:0.07% |
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9 |
光学显微镜 |
LEICA DM RX |
德国LEICA公司 |
放大倍数:目镜:10×,20×;物镜:5×,10×,25×,40×,100×;图像处理和颗粒测量 |
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10 |
分析电镜 |
H-800 |
日本日立公司 |
200KV,分辨率为0.204nm(线) |
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11 |
X射线衍射仪 |
ARL X'TRA |
美国热电公司 |
2.2 KW铜靶、固体探测器、步进0.0001度;高温台温度:RT—2000℃ |
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12 |
网络分析仪 |
8722ET |
美国安捷仑公司 |
2.4mm校准件,7mm校准件,2.4mm-7mm转接头,空气线,介电常数和磁导率测量软件 |
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13 |
电化学综合测试仪 |
Solartron 1287、1260、1294、1290 |
英国输力强公司 |
±14.5V(分辨率:100mV;误差:0.2%±200uV),±2A(分辨率:100pA;误差:±0.1%量程),10mHz~32MHz |
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14 |
转矩流变仪 |
Lab-Station+W50EHT-3zone |
德国BRABENDER |
混合器温度最大范围:RT-300℃;转速:0.2-150rpm;最大扭矩:200Nm;样品用量约55g;可以对转速和温度进行程序控制 |
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15 |
自动压汞仪 |
Poremaster GT-60 |
美国QUANTACHROME公司 |
低压和高压站口各2个,低压范围1.5~350kPa,高压范围140kPa~420Mpa,可测量直径为0.0035μm~400μm范围内变化的孔容 |
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