报告题目：同步辐射表征方法及其在薄膜材料中的应用

报告人：张 静 研究员

邀请人：陈永华 教 授

报告时间：6月3日（星期一）10:00

报告地点：科技创新大楼5楼学术报告厅

摘要

迅速发展的能源和新材料领域等正在引起人们广泛的关注。新材料奇异光电性能的结构起源；催化反应的控制机理；薄膜材料的生长动力学过程以及薄膜表界面金属元素的迁移过程等成为这些领域的研究热点。同步辐射表征方法如X-射线吸收光谱、衍射、小角散射等因其在表征复杂体系中的重要性,近年来被广泛应用于薄膜材料的研究中。这里,以北京同步辐射装置平台为例,借助于同步辐射光源、表面界面表征技术、原位测量技术以及丰富的样品环境室,人们探索物质局域结构和电子结构演变。通过理解物质的结构-性能的关系,人们正在推进新能源和新材料的发展。国内的同步辐射装置（合肥、上海、北京）正在给多学科领域发展提供强有力的科学实验平台，未来的北京高能光源，上海光源以及合肥光源将给薄膜材料的研究提供全新的途径。

张静 女1967年12月出生，湖北荆州人。1985年-1989年于南京理工大学应用化学系获工学学士学位，1993年9月-1999年6月于北京理工大学获工学硕士和博士学位。1999年7月-2001年7月在中科院物理研究所从事博士后研究工作。2001年7月起在中科院高能物理研究所工作,期间,2004年8月-2007年3月在日本東北大学多元物質科学研究所科学技術振興研究員; 2008年4-2008年7月日本東北大学国际先端科学中心日本学术振興会(JSPS)访问教授，2010年被聘为中科院高能物理研究所研究员。

多年来从事纳米材料的制备、催化特性及同步辐射的微观结构研究，以第一作者发表在ADV MATER, NANOLETTER, PRB等SCI论文十多篇，国家发明专利数项,合作学术论文百余篇。先后主持多项国家自然科学基金、中国科学院等多项课题。目前研究兴趣与方向：新型纳米材料的制备与性能;发展原位样品环境室和时间-空间分辨同步辐射X射线吸收谱（XAFS）探测方法研究新型纳米材料的生长机制;原位同步辐射X射线吸收谱（XAFS）技术、X射线衍射(XRD)技术和小角X射线散射（SAXS）技术研究新型材料的结构与性能的关联。