基本信息 | ||
姓 名: | 胡 蓉 | |
出生年月: | 1983年 | |
职 称: | 教授 | |
办公电话: | 025-83589160 | |
E-mail: | hurongdiana@hotmail.com | |
办公地点: | 科创大厦A1106 | |
学缘情况和工作经历 | ||
2001.9–2005.7 | 清华大学 | 学士 |
2005.9–2008.7 | 清华大学 | 硕士 |
2006.4– 2008.3 | 东京工业大学 | 硕士 |
2008.10– 2012.7 | 牛津大学 | 博士 |
2013.1– 2013.7 | AkzoNobel中国研发中心(上海) | 高级科学家 |
2014.8– 2016.8 | 德国马普钢铁研究所 | 博士后 |
2016.9–2021.8 | 南京理工大学 | 副教授 |
2021.9–至今 | 新利18彩票 | 教授 |
主要研究方向 | ||
1、三维原子探针技术的发展与应用 2、核材料辐照损伤机制 3、半导体微观机构精细表征 |
||
代表性论文 | ||
1、R. Hu, S. Jin, and G. Sha*, Application of Atom Probe Tomography in Understanding High Entropy Alloys: 3D Local Chemical Compositions in Atomic Scale Analysis, Progress in Materials Science, 2020. 100740, Doi: 10.1016/j.pmatsci.2020.100740. 2、K. Wei1, R. Hu1, D. Yin, L. Xiao, S. Pang, Y. Cao, H. Zhou*, Y. Zhao*, Y. Zhu*, Grain Size Effect on Tensile Properties and Slip Systems of Pure Magnesium, Acta Materialia, 2021. 206: 116604. 3、Q. Zhou, R. Hu*, G. Sha*, A New Mechanism of Surface Phase Formation on Precipitation-Hardening Alloy under Ion Irradiation, Applied Surface Science, 2021, 563: 150358. 4、R. Hu, J. Xue, X. Wu, Y. Zhang, H. Zhu and G. Sha*, Atom Probe Tomography Characterization of Dopant Distributions in Si FinFET: Challenges and Solutions, Microscopy & Microanalysis, 2020. 26: p. 36-45. 5、R. Hu*, G.D.W. Smith, and E.A. Marquis, Effect of Grain Boundary Orientation on Radiation-Induced Segregation in a Fe-15.2at% Cr Alloy, Acta Materialia, 2013. 61: p. 3490-3498. |
||
科研项目 | ||
1、国家自然科学基金青年基金:Fe-Cr二元合金在辐射条件下微观结构演变及α’相形核机理研究 2、江苏省自然科学基金青年基金:微纳尺度材料表层缺陷引入及氧化行为和机理的研究 |
||
获奖情况 |
||
2017年江苏省“双创博士” |
||
招生方向 | ||
材料学,材料物理,微观结构表征技术 |
胡蓉
作者:
摄影:
审核:
[发表时间]:2020-03-18
[来源]:
[浏览次数]: