7月7日上午，应实验室邀请，日本电子株式会社电子专家社荻原伸介先生和大西市朗博士在科技创新大楼A506报告厅做了“新一代透射电子显微镜JEM-ARM200F和新型离子抛光（Ion Slicer）的原理和应用”的学术报告。
球差过滤透射电镜是目前世界上最先进的透射电镜，分为STEM球差过滤器和TEM球差过滤器两种，其中STEM球差过滤器在可以提高STEM分辨率的同时，进行原子级的成分分析。TEM球差过滤器则可大大提高TEM图像的分辨率。本次报告会上，荻原伸介先生介绍了最新一代球差过滤一体化透射电镜JEM-ARM200F。它的加速电压为200 kV，分辨率可达0.08 nm，是目前为止分辨率最高的商业化透射电子显微镜，能进行原子水平(尤其是轻原子)的显微分析；大西市朗博士介绍的离子切片仪制备薄膜样品比传统的离子减薄仪快速，简单。离子切片仪只需做成100 μm的薄片后减薄；低能量，低角度(0° 到6°)的氩气离子束通过遮光带照射样品，彻底消除离子束对样品的损伤，即使是柔软的材料，样品制备质量也极好。
此次学术报告会不仅在微观结构方面提供了新的技术知识点，而且在显微分析方面提出更深次研究的可行性，报告内容得到了与会师生们的热烈掌声。